Olympus Corporation presentó Vanta Element, un analizador portátil de fluorescencia de rayos X (XRF), para identificar el grado de aleación en sectores de reciclaje de chatarra y fabricación de metales. Puede hacer análisis en segundos y cuenta con la clasificación IP54, un dispositivo preparado para operar en entornos con polvo y humedad.
Vanta Element puede operar en rangos de -10º C a 45ºC (de 14 °F a 113 °F). El analizador es apto según la normativa MIL-STD-810G para soportar caídas de hasta 1.2 metros, por lo que en operación normal, cualquier accidente no será inconveniente al estar protegido el dispositivo.
La tecnología Axon Thecnology de Olympus otorga estabilidad y tasa de conteo. Es soportado por un procesador Dual-Core y es útil para clasificaciones rápidas en sus operaciones a fin de generar un pronto retorno sobre la inversión.
Este analizador XRF combina conectividad opcional para subir la información a la nube y compartir los datos analíticos. El dispositivo cuenta con una memoria microSD industrial y dos puertos USB de almacenamiento o exportación de datos. Estas características lo hacen compatible con la industria 4.0.